Aktuální události

24.09.2019

Moderní technologie v farmaceutickém průmyslu 2019

Přijměte pozvání na exkluzivní konferenci. Brno 24.9.2019

09.10 - 13.10.2017

Pozvání na MSV 2017

Společnost TSI System se zúčastní Mezinárodního strojírenského veletrhu 2017 v Brn...

20.11 - 24.11.2017

Kurz ultrazvukové diagnostiky 2017

Kurz ultrazvukové diagnostiky I.

23.11 - 24.11.2016

13. Mezinárodní odborný seminář - Progresivní a netradiční technologie povrchových úprav

Konference s výstavou související laboratorní a měřicí techniky.

07.11 - 11.11.2016

Kurz ultrazvukové diagnostiky 2016

Evropský kurz ultrazvukové diagnostiky v úrovni I v Česku

Zobrazit všechny události

Měření a zkoušení

TSI System poskytuje konzultace o teplotních měření pro technologické nebo diagnostické účely. Pro demonstrační měření jsou k dispozici ruční a systémové bezkontaktní teploměry, termokamery a řádkové skenery v teplotním rozsahu od -50 °C do 3000 °C.

TSI System nabízí poradenství v nedestruktivním měření tloušťky povlaků na libovolných podkladech a ve zkouškách přilnavosti. Také je možné zjistit podrobnosti o nedestruktivním měření tloušťky materiálů a nedestruktivní diagnostice bodových nebo laserových svarů.

TSI System podává informace o vhodnosti použití specifických spotřebních materiálů pro přípravu metalografických vzorků. Pro zájemce provádí vzorové aplikace doporučených postupů ve vlastní laboratoři nebo přímo na jejich pracovišti.

TSI System navrhuje zkoušky tvrdosti zejména kovových materiálů přenosnými i stacionárními univerzálními tvrdoměry. V případě potřeby automatického měření navrhuje systémové řešení měření tvrdosti.

TSI System poskytuje endoskopickou kontrolu pomocí videoskopu se sondou o průměru 6 mm a délce 3 m. Výstupem je zkušební protokol s obrazovou dokumentací stvrzený držitelem certifikátu III. stupně pro vizuální kontroly.

Na technické a termínové podmínky konzultací, poradenství, měření, zkoušek a kontrol se informujte prostřednictvím formuláře dotazu.

Dodáváme produkty těchto výrobců

FLUKE Raytek defelsko ernst fluke-europe ircon uesystems defelsko ircon amsterdam pcwi