Aktuální události

20.11 - 24.11.2017

Kurz ultrazvukové diagnostiky 2017

Kurz ultrazvukové diagnostiky I.

09.10 - 13.10.2017

Pozvání na MSV 2017

Společnost TSI System se zúčastní Mezinárodního strojírenského veletrhu 2017 v Brn...

07.11 - 11.11.2016

Kurz ultrazvukové diagnostiky 2016

Evropský kurz ultrazvukové diagnostiky v úrovni I v Česku

23.11 - 24.11.2016

13. Mezinárodní odborný seminář - Progresivní a netradiční technologie povrchových úprav

Konference s výstavou související laboratorní a měřicí techniky.

04.10 - 06.10.2016

Ocelové pásy 2016

9. mezinárodní konference

Ocelové pásy 2016

Zobrazit všechny události

Poslední novinky

08.04.2016

Bezkontaktní měření teploty v nebezpečných prostorech

Bezkontaktní měření teploty v nebezpečných prostorech 

Osvědčené sní...

23.03.2016

Nový pyrometr Endurance

Fluke® Process Instruments představuje řadu vysokoteplotních poměrových pyrometrů Enduranc...

17.08.2015

Prohlášení Fluke

Světoví výrobci Raytek, Ircon a Datapaq mají nyní společné jméno Fluke Process Instrument...

05.06.2015

Dokonalé metalografické vzorky

Příprava dokonalých metalografických vzorků s pomocí techniky LamPlan.

01.04.2015

Ultrazvuková průmyslová diagnostika

Společnost TSI System je významným distributorem techniky pro ultrazvukovou průmyslovou diagn...

Zobrazit všechny novinky

Mikrotvrdoměr FM 810

Kód: FM 810



 
Mikrotvrdoměr FM 810

Precizní dotykový displej, zobrazované jednotky HV/HK/HBS/HBW včetně měření lomové houževnatosti Kc podle JIS R1807. Tento model také umožňuje připojení duální hlavy až pro 2 vnikací tělesa a 4 objektivy současně. Je podporována konverze do ostatních jednotek tvrdosti v souladu se standardy ASTM a SAE.

Kompletní prospekt

Podrobná technická specifikace

Standardní příslušenství

Volitelné příslušenství

Způsob vyhodnocování: Digitální
Zatížení: Typ A: od 5 do 2000 gramů

Typ B: od 1 do 1000 gramů

Typ C: od 1 do 2000 gramů

Typ D: od 1 do 1000/2000 gramů

Typ E: od 1 do 1000 gramů
Zobrazované jednotky: HV, HK, HBS, HBW, Kc
Okulár: 10x (volitelně 15x)
Objektiv: 10x, 50x (volitelně 5x, 20x, 40x, 100x)
Čas zatížení: 5 až 99 sekund
Rozlišení mikrometru: 0,01 µm
Efektivní měř. rozsah: 170 µm při zvětšení 500x
Max. výška vzorku: 95 mm
Max. hloubka vzorku: 115 mm
*
*
*
*

*Povinná pole
Captcha
Zavřít Odeslat
Nový kód
* S poskytnutými údaji je nakládáno v souladu se zákonem 101/2000 Sb. o ochraně osobních údajů.

Dodáváme produkty těchto výrobců