0

    Vysoce kvalitní brusné papíry pro metalografii

    Vysoce kvalitní brusné papíry s kalibrovaným brusivem SiC dle norem FEPA

    Vysoce kvalitní brusné papíry francouzského výrobce Lam Plan jsou synonymem pro vysokou kvalitu a přesnost. Splňují velmi přísné standardy kvality, které jsou v souladu s evropskými normami FEPA (P80 až P4000), což zaručuje kalibrovanou zrnitost brusných papírů všech velikostí zrn. Dlouhou trvanlivost našich brusných papírů zajišťují vysoce odolné pryskyřice, které pevně drží brusné zrno na povrchu. Tloušťka papíru, na kterém je brusné zrno umístěno, hraje rovněž klíčovou roli v prodlužování životnosti produktu a je úměrná velikosti zrna.

    Naše brusné papíry jsou k dispozici v průměrech 200, 230, 250 a 300 mm, ve standardním provedení i ve verzi se samolepicím povrchem. Nabízíme také širokou škálu zrnitostí od P80 až po P4000. Pro specifické požadavky jsou dostupné také větší průměry 350 a 400 mm, stačí se na nás obrátit s poptávkou.


    Parametrický filtr

    Podrobné vyhledávání

    Status

    Řadit podle

    výchozí řazení - produkty skladem dle prodejnosti za 60 dní sestupně
    vzestupně sestupně

    Filtr skladu

    Sklad

    2 produkty
    1 stránka

    Položek na stránku:

     
     

    Brusné papíry od výrobce LAM PLAN splňují nejpřísnější požadavky na kvalitu. Kalibrace zrn SiC (karbid křemíku) je garantována pro evropské

     

    varianty

    Brusné papíry od výrobce LAM PLAN splňují velmi přísné požadavky na kvalitu. Kalibrace zrn SiC (karbid křemíku) je garantována pro evropské normy FEPA bez ohledu na jejich velikost (P80 až P4000).

     

    varianty

     
     
    • N

      Novinka

    • V

      Výprodej

    • S

      Speciální nabídka

    • Body/ks

      - bodová hodnota produktu v promoakci;
    • v

      varianty

      sestava - sloučení komponent ve virtuální produkt,(komponenty se mohou prodávat i samostatně)
    • hák - produkt, k němuž se při prodeji automaticky přiřazují další produkty (například zdroj + přívodní šňůra apod.)

    Kvalita abraziva a garantovaná kalibrace zrn dle norem FEPA

    SiC brusné papíry s brusivem z karbidu křemíku představují vysoce kvalitní spotřební materiál, který odpovídá velmi přísným požadavkům na kvalitu. Ačkoliv LAM PLAN strategicky prosazuje inovativní náhrady v podobě brusných disků, jejich tradiční papíry zůstávají referenční volbou pro širokou škálu aplikací, obzvláště pro broušení měkkých materiálů. 

    Jako abrazivum je využíván karbid křemíku (SiC) s vysokou tvrdostí KNOOP 2500, který je ideální pro efektivní řezání a úběr většiny materiálů. Klíčovým parametrem, který zajišťuje reprodukovatelnost procesu, je standardizace zrnitosti: kalibrace zrn je garantována dle evropských norem FEPA (Federation of European Producers of Abrasives) v celém rozsahu od hrubého P80 až po superfine P4000.  

    Odolná konstrukce brusného papíru

    Brusné papíry Lam Plan řeší problém tradičních papírů, které se při mokrém broušení deformují kvůli nasávání vody. Lam Plan používá speciální voděodolný podklad a pryskyřice odolné vůči teplu i vlhkosti, což zajišťuje stabilitu a delší životnost. Abrazivní zrna (SiC) jsou navíc elektrostaticky uspořádána, což zaručuje rovnoměrné rozložení a efektivní broušení.

    Tradiční aplikační rozsah SiC papírů 

    SiC brusné papíry Lam Plan jsou dostupné v široké škále zrnitostí (P80–P4000) a průměrů (Ø 200–400 mm). Nabízejí možnost samolepicí varianty uchycení. Díky své flexibilitě jsou ideální pro laboratoře, které pracují s různými materiály. Využívají se běžně ve výzkumu i akademické sféře, zejména pro počáteční broušení před použitím diamantových suspenzí, například při přípravě povrchů titanu a hliníku pro SEM analýzu.

    Role broušení v minimalizaci artefaktů pří přípravě metalografického vzorku

    Proces přípravy vzorku je sekvenční postup, kde má každý krok za úkol systematicky odstraňovat poškození, která vznikla v předchozích fázích, ať už při řezání nebo zalévání. Počáteční úběr materiálu v rámci broušení je klíčový pro získání rovné plochy a odstranění největšího poškození.

    Metalografický výbrus představuje základní a nenahraditelný předpoklad pro spolehlivou a reprodukovatelnou analýzu mikrostruktury materiálu. Vyžaduje dokonale rovný a hladký povrch s maximální odrazivostí světla. Povrch musí reflektovat výhradně inherentní vlastnosti materiálu, nikoliv defekty způsobené samotnou přípravou vzorku.

    Jakékoliv poškození, zbytkové pnutí, deformace nebo vznik hluboké narušené povrchové vrstvy mohou zakrýt skutečnou mikrostrukturu (například feritické a perlitické fáze v ocelích) a vést k chybným závěrům. Pokud příprava vzorku proběhne špatně a generuje nadměrné teplo nebo mechanickou deformaci, vytvoří se hluboká narušená vrstva, jejíž odstranění v následném procesu broušení vyžaduje intenzivnější kroky, které však samy mohou zavést jemnější defekty. Tento kaskádový efekt činí proces neefektivním a ohrožuje validitu finální analýzy.